高加速寿命试验箱(HAST)适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。
详细介绍
高加速寿命试验箱(HAST)技术指标
温度范围：110℃～132℃ 110℃～147℃
湿度范围：100%RH饱和蒸气
压力范围：表压力+0.2～2.0kg/cm2 表压力+0.2～3.5kg/cm2
加压时间：大约45分钟 大约55分钟
循环方式：水蒸气自然对流循环
安全保护：感温器检测保护，好阶段高温保护，好阶段高压保护，箱门压力限制，水箱缺水报警断电，温度加热器保护，湿度加湿器保护，第二阶段高温保护，第二阶段高压保护，第三阶段紧急泄压保护，手动泄压保护，自动泄压等。
高加速寿命试验箱(HAST)特点：
可操作显示屏
1)跟踪程序遮程
●程序实时整体进程。进程中某一步的剩余时间
●即时日期与时间
2)程序标题(好多10个)。自动显示在进程中某个程序的标题
3)明亮清晰彩色LCD
●当前进程以大写字母清晰地显示在彩色屏幕上
4)触摸屏输入
●用触摸屏系统准确地输入
高加速寿命试验箱产品链接：
http://www.sz-skyan.com/Products-13806371.html
https://www.ybzhan.cn/st133409/product_13806371.html