卡尔蔡司电子显微镜SEM，将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。
详细介绍
卡尔蔡司电子显微镜SEM
ZEISS Sigma系列产品
用于高品质成像与高级分析的蔡司场发射扫描电子显微镜
灵活的探测，4步工作流程，高级的分析性能
将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。
Sigma 300 性价比高。Sigma 500 装配有的背散射几何探测器，可快速方便地实现基础分析。任何时间，任何样品均可获得精准可重复的分析结果。
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灵活的检测器选项，获取清晰图像
使用新颖的ETSE和Inlens探测器在高真空下获取高分辨率表面形貌信息。
使用VPSE或C2D检测器在可变压力模式下获得清晰图像。
使用aSTEM检测器生成高分辨率透射图像。
使用H*SD或YAG检测器分析成分。
卡尔蔡司电子显微镜产品链接：
http://www.chxwcx.com/SonList-2427586.html
https://www.chem17.com/st207575/erlist_2427586.html