奥林巴斯OmniScan X3全聚焦相控阵探伤仪

提升效率的创新特性
脉冲重复频率是OmniScan MX2探伤仪的2倍；单独的衍射时差（TOFD）菜单，加快了工作流程；改进的快速相控阵校准，减轻了操作人员的挫败感；800%的高波幅范围，减少了重新扫查的需要；机载双晶线阵、双晶矩阵探头的支持性能，加速了创建设置的过程。
与现有的文件和设置相兼容
与现有的探头和扫查器兼容；与MX2/SX仪器的数据文件兼容：具有比较新旧数据的功能，并可以监控随着时间的推移而产生的变化；与MX/MX2/SX仪器的设置兼容，有助于程序达到合规要求。
迅速地投入到检测工作中
机载扫查计划、改进的快速校准和简化的用户界面，省去了一些不必要的步骤，从而有助于确保在很短的时间内完成检测的设置工作。
如果您是OmniScan MX2仪器的用户，您可以从现有的仪器迅速地过渡到OmniScan X3仪器。如果您还不太了解相控阵超声检测或全聚焦方式（TFM），您可以通过OmniScan X3探伤仪轻松地学习这些知识。
检测团队中的主力成员
OmniScan X3探伤仪所提供的功能有助于用户高效地完成检测工作。这些功能可以在以下应用中大显身手：焊缝检测、管线和管道的检测、耐腐蚀合金的检测、腐蚀成像、高温氢致缺陷（HTHA）的检测、初期裂纹的探测、复合材料的检测、缺陷成像等等。
奥林巴斯OmniScan X3全聚焦相控阵探伤仪
http://www.zy-nde.com/SonList-2028176.html
https://www.chem17.com/st418102/product_33655323.html