Perthometer M1粗糙度仪

Mahr Perthometer M1手持粗糙度仪
表面粗糙度参数这一概念开始提出时就是为了研究零件表面和其性能之间的关系，4.表面粗糙度理论的新进展表面形貌评定的核心在于特征信号的无失真提取和对使用性能的量化评定，国内外学者在这一方面做了大量工作，提出了许多分离与重构方法。随着当今微机处理技术、集成电路技术、机电一体化技术等的发展，出现了用分形法、Motif、性能参数集法、时间序列技术分析法、好小二乘多项式拟合法、滤波法等各种评定理论与方法，取得了显著进展，下面对相对而言比较成熟的分形法、Motif法、特定功能参数集法进行介绍。
扫描长度按DIN/ISO：1.75，5.6，17.5mm
取样长度数目：1到5，可选择
参数：DIN/ISO：Ra，Rz，Rmax，JIS:Ra，Rz
垂直方向标定：自动
水平方向标定：根据取样长度
记录：R-轮廓，数据输出
打印机：自动打印/内置式打印
纸宽：57.5mm
计量单位：um/uin，可选择
显示：LCD显示
语言：中文操作界面，10种欧洲语言和其它2种亚洲语言
公差和测量数据显示跟踪
电源：允许输入电压从90V到264V，根据电源箱
可充电池：NiCd电池，可测量1000次
操作温度：+5 deg to+40deg
重量：约900g
Perthometer M1粗糙度仪
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