美国Gamry耗散型石英晶体微天平

美国Gamry耗散型石英晶体微天平

该系列产品能够测量石英晶片或所吸附薄膜的频率变化及能量耗散，进而分析反应过程中微小的质量变化，吸附层厚度变化等；能够判断膜的刚性或柔性，并且分析膜的粘弹性方面的性质；以及实时追踪分子排列、结构变化等

产品特点：

阻抗型、耗散型石英晶体微天平

判断薄膜的刚性与柔性，测量耗散，分析膜的粘度、弹性等性质

吸附、成膜等过程中的微小质量变化(可低至纳克级)，分析其厚度、质量等

实时追踪反应过程中的分子排列、结构变化......

在QCM测试的同时，可以同步进行电化学扫描

液相中标准耗散因子精度：1x10-7(1E-7)

液相中的质量灵敏度：<1ng/cm2

双通道，带温度控制，流通型QCM池，可扩展至四通道

同时监测频率和耗散

频率范围：1-80MHz(对于5MHz可做到13倍频)

温度控制范围：4°C-80°C(±0.02°C)

可选配电化学测试模块

多可配置为4通道(标准配置为双通道)

耗散型石英晶体微天平

http://www.gamry17.com/Products-31366397.html

https://www.chem17.com/st342781/product_31366397.html