美国Gamry耗散型石英晶体微天平
该系列产品能够测量石英晶片或所吸附薄膜的频率变化及能量耗散，进而分析反应过程中微小的质量变化，吸附层厚度变化等；能够判断膜的刚性或柔性，并且分析膜的粘弹性方面的性质；以及实时追踪分子排列、结构变化等
产品特点：
阻抗型、耗散型石英晶体微天平
判断薄膜的刚性与柔性，测量耗散，分析膜的粘度、弹性等性质
吸附、成膜等过程中的微小质量变化(可低至纳克级)，分析其厚度、质量等
实时追踪反应过程中的分子排列、结构变化......
在QCM测试的同时，可以同步进行电化学扫描
液相中标准耗散因子精度：1x10-7(1E-7)
液相中的质量灵敏度：<1ng/cm2
双通道，带温度控制，流通型QCM池，可扩展至四通道
同时监测频率和耗散
频率范围：1-80MHz(对于5MHz可做到13倍频)
温度控制范围：4°C-80°C(±0.02°C)
可选配电化学测试模块
多可配置为4通道(标准配置为双通道)
耗散型石英晶体微天平
http://www.gamry17.com/Products-31366397.html
https://www.chem17.com/st342781/product_31366397.html
