回收 Tektronix371B 晶体管图示仪，Tektronix 371A
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泰克 371B 晶体管图示仪 曲线 仪用于测试各种功率半导体。Tektronix371B 是高功率曲线 器的行业 ，可对各种功率半导体执行直流参数表征，包括晶闸管、SCR、IGBT 和功率 MOSFET。高压集电极模式允许测试高达 3,000 伏的器件的关闭特性。脉冲高电流集电极模式提供大于 400 安培峰值的输出电流脉冲，用于测试导通特性。它还允许进行高达 3,000 瓦的高功率测试。
Tektronix 371B 晶体管图示仪 测量的交互式控制是从全功能前面板或通过 GPIB 完成的。每个操作参数都可以使用 GPIB 控制器进行控制。 上提供了 Tektronix 371B 系列 LabView 驱动程序。这些驱动程序具有许多构建块来创建自定义测量解决方案。
多 80 条数字化特性曲线可以存储在软盘或内部非易失性存储器中，只需按一下按钮即可调用。然后可以将实时曲线与先前存储的曲线进行比较，以评估温度漂移或操作参数的其他变化。为帮助识别数据，多可使用 24 个字符的文本来标记或注释曲线数据。可以使用多种存储方法调整、存储和调用操作参数，包括系统内存、内置 1.44 MB 软盘驱动器，或通过 GPIB 控制器发送到外部。
Tektronix 371B晶体管图示仪 提供三种光标测量模式。点光标提供任何点的电压、电流、gm 或 DC beta 的直接屏幕读数。窗口光标可以.在两条曲线之间以测量小信号 beta 或 gm，也可以用于视觉通过/不通过测试。功能线光标提供斜率或截距值的屏幕读数。
测试夹具是一种标准附件，可提供安全的设备外壳，以确保在测量期间保护操作员。测试夹具可容纳带开尔文感应功能的标准适配器。
泰克 371B 晶体管图示仪 高功率曲线仪的特点包括：
半导体器件的高精度测量
高压和电流源（高达 3,000 V 或 400 A）
内置光标测量 - 点、窗口和功能线
波形比较和平均开尔文检测测量
可编程
1.44 MB 软盘驱动器存储设置和曲线位图
使用第三方打印机直接打印硬拷贝
Tek 371B 曲线 踪器的替代品：Tektronix 371A
