赛默飞ICP-MS工作说明

 
 
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更新 2022-06-29 10:47
 
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详细说明
赛默飞ICP-MS是获得R可的痕量元素分析和定量的技术。 其应用范围从半导体工业到地质和环保分析、从生物研究到材料科学。赛默飞ICP-MS是元素信号的多原子干扰,这种干扰主要来自氩或样品基质。  高质量分辨率是识别和消除干扰的蕞佳标准。 即使没有样品制备步骤,消除干涉也能准确可K地进行痕量级多元素定量分析。

工作条件:
ICP:主要包括ICP功率,载气、辅助气和冷却气流量。样品提升量等,ICP功率一般为1KW左右,冷却气流量为15L/min,辅助气流量和载气流量约为1L/min,调节载气流量会影响测量灵敏度。样品提升量为1ml/min。
接口装置:ICP产生的离子通过接口装置进入质谱仪,接口装置的主要参数是采样S度,也即采样锥孔与焰炬的距离,要调整两个锥孔的距离和对中,同时要调整透镜电压,使离子有H好的聚焦。
质谱仪:主要是设置扫描的范围。为了减少空气中成分的干扰,一般要避免采集N2、O2、Ar等离子,进行定量分析时,质谱扫描要挑选没有其它元素及氧化物干扰的质量。
同时还要有合适的倍增器电压。
事实上,在每次分析之前,需要用多元素标准溶液对仪器整体性能进行测试,如果仪器灵敏度能达到预期水平,则仪器不再需要调整,如果灵敏度偏低,则需要调节载气流量,锥孔位置和透镜电压等参数。

更多产品信息来源:https://www.chem17.com/st377393/product_29339607.html
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