SyftGuardian生产环境VOCs及无机物多点位监测系统是一套集中式多点位监测解决方案，可持续监测不同区域内的挥发性化合物。系统适用于半导体晶圆厂空气分子污染物（AMC）管控、厂界排放监测，以及聚合物和制药生产环境的室内空气质量监测。依托SyftTracer™平台，SyftGuardian生产环境VOCs及无机物多点位监测系统可提供稳定可靠的全天候连续分析。
通过优化的采样设计、自动化工作流程及内置的可定制软件，系统无需繁琐的人工采样和实验室分析，即可对多种化学性质各异的化合物进行高选择性的痕量定量分析。由此构建的监测网络兼具稳定性与可扩展性，便于用户掌握复杂生产环境中的浓度变化，并对不同区域的趋势进行直观比较。
核心优势
持续开展多点位采样，无需人工逐点采集样品。
分析流程简便，无需由受过专门培训的技术人员长期值守。
对关键化合物的检测灵敏度可低至pptV级，并可输出定量浓度；报警阈值可按应用需求灵活设定。
单个点位可在数分钟内自动完成分析，无需样品前处理。
由同一供应商提供完整系统，并配备可扩展、可定制的化合物库。
结合多种反应机制与精准可控的电离过程，获得准确、稳定且可靠的浓度结果。
SIFT-MS技术概述
选择离子流管质谱（SIFT-MS）是面向气体及顶空样品开展全面实时分析的先进技术，可覆盖超痕量浓度水平。该技术将超软、精准可控的化学电离（CI）与质谱检测相结合，可快速定量挥发性有机物及永久性气体，灵敏度可达到亚pptV级。
Syft科技的SIFT-MS仪器（如SyftTracer™）可提供八种化学电离试剂离子：H₃O⁺、NO⁺、O₂⁺、OH⁻、O⁻、O₂⁻、NO₂⁻和NO₃⁻。这些试剂离子可与待测的挥发性有机物和无机气体发生高度可控的离子-分子反应，而与空气中的主要组分（N₂、O₂、Ar、CO₂和H₂O）反应极慢或不发生反应。因此，无需预浓缩或样品干燥，即可直接分析空气中的痕量及超痕量组分。通过快速切换试剂离子，SIFT-MS技术相较其他直接分析技术可获得更出色的分析特异性。
生产环境VOCs及无机物多点位监测系统
http://www.syfttech.cn/Products-40294648.html
https://www.chem17.com/st701066/product_40294648.html
