泽攸SEM/TEM原位分析是一种高分辨率的表面和结构分析技术，通常用于材料科学、纳米技术、生命科学等领域。这类分析技术结合了扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）的优势，能够在原位环境下实时观察样品的微观变化过程。
1.SEM（扫描电子显微镜）通过扫描样品表面并记录反射或二次电子信号来产生高分辨率的表面图像。它适用于较大尺寸的样品，能够提供样品表面的形态、粗糙度和化学成分的信息。
2.TEM（透射电子显微镜）则通过电子束穿透样品，产生内部结构的高分辨率图像。TEM可以用来研究样品的内部细节，如晶格结构、晶体缺陷等。
3.原位分析的核心是能够在特定环境（如温度、气氛、应力等）下进行实时观测，这对于研究材料的动态变化、反应过程或相变行为等非常重要。例如，在催化反应、材料变形等研究中，通过原位分析可以获得反应过程中微观结构的变化数据，从而更好地理解材料的性质和性能。
这种技术通常结合了多种环境控制，如：
1.温度控制：研究材料在不同温度下的反应和变化。
2.气氛控制：比如在气体或液体环境下观察材料的反应。
3.应力控制：用来研究材料在力学负载下的变化。
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